Microscopio de barrido NV
El microscopio de barrido NV es un instrumento de medición de precisión cuántica que combina la resonancia magnética ópticamente detectada (ODMR) de centros de nitrógeno-vacantes de diamante con la técnica de sonda de barrido. Es aplicable a la investigación en espintrónica, multiferroicos, materiales magnéticos 2D, superconductores y más.
Imágenes del dispositivo:

Izquierda: Microscopio de barrido NV (estructura de gabinete rectangular con cuatro patas negras).
Derecha: Microscopio criogénico de barrido NV (estructura blanca más alta con componentes superiores delgados).
Tabla de especificaciones:
Parámetro | SNVM(RT) | SNVM (criogénico) |
|---|---|---|
Sensibilidad magnética | ≤2μT/√Hz/2 | ≤5μT/√Hz/2 |
Resolución espacial | 10–30 nm | 10–30 nm |
Rango de temperatura | 300 mil | 2 K–300 K |
Funciones principales | Modo ISO-B, Modo Dual-B, Modo Full-B, Modo Quenching, Modo AFM, Modo MFM, Modo CFM | Modo ISO-B, Modo Dual-B, Modo Full-B, Modo Quenching, Modo AFM, Modo MFM, Modo CFM |
Opciones de imán | 0–50 mT | 9/1/1 T |
Componentes clave:
Diseño de sonda:Pequeño y compacto, fuerte capacidad de carga, fuerte resistencia a los terremotos.
Diseño óptico:Fácil de usar; fácil de expandir; alta eficiencia de recolección de fluorescencia; amplio campo de visión.

Aplicaciones:
Sonda NV de barrido con matrices de nanopilares o pilar único.
Velocidades de conteo: ≥300 kc/s.
Contraste: ≥20%.

Sonda NV



Diagrama del dispositivo:Dispositivo cilíndrico vertical para ODMR criogénico de alta presión.

Tabla de parámetros técnicos:Parámetro | Valor |
|---|---|
Rango de escaneo | 300 μm × 300 μm |
Presión | ≥30 GPa |
Sensibilidad magnética | ≤35μT/√Hz |
Resolución espacial | 500 nm |
Campo magnético | 9/1/1 T |
Método de refrigeración | Criogénico 1,5 W a 4K |
Rango de temperatura | 2 K–300 K |
Resolución de temperatura | ±50 mK |
Resultados menores de 30 GPa:

Exploración confocal:Fondo azul con dos puntos brillantes de color amarillo anaranjado; escala de intensidad de color incluida.
Espectro ODMR:Eje X = frecuencia (MHz), eje Y = contraste; puntos negros (datos experimentales), curva roja (modelo ajustado).
Lista de universidades (dos columnas):
Columna izquierda: Universidad de Tsinghua, Universidad de la Ciudad de Hong Kong, Universidad de Pekín, Instituto de Física CAS, Universidad de Ciencia y Tecnología de China, Universidad del Sur de China, Universidad de Udan, Universidad de Beihang, Universidad de Tecnología de Hebei, Universidad Sun Yat-sen, Instituto de Tecnología de Harbin, Universidad de Xiamen, Universidad Normal de Hubei.
Columna derecha: (Continuación implícita de los nombres de las universidades; la lista exacta no está completamente especificada pero incluye abreviaturas).

Miniaturas de escenas de investigación (9 imágenes):
Abreviaturas: CityU (Universidad de la Ciudad de Hong Kong), USTC (Universidad de Ciencia y Tecnología de China), SCUT (Universidad de Tecnología del Sur de China), HIT (Instituto de Tecnología de Harbin), FuDan (Universidad de Fudan), IOP CAS (Instituto de Física CAS), XMU (Universidad de Xiamen), THU (Universidad de Tsinghua), BUAA (Universidad de Beihang).
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