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Microscopio de barrido NV
El microscopio de barrido NV es un instrumento de medición de precisión cuántica que combina la resonancia magnética ópticamente detectada (ODMR) de centros de nitrógeno-vacantes de diamante con la técnica de sonda de barrido. Es aplicable a la investigación en espintrónica, multiferroicos, materiales magnéticos 2D, superconductores y más.
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Picnómetro de gas EASY-G 1310M
El picnómetro de gas EASY-G 1310M ofrece una precisión de ±0,02 % y una repetibilidad de ±0,01 % en mediciones de densidad real. Cuenta con 3 cámaras de muestra, una computadora integrada de 13,3", un sistema de tuberías integrado y modos de doble presión (negativa/positiva). Ideal para polvos, baterías, carbón, suelo y alimentos, con rápidas capacidades de control de calidad industrial.
Picnómetro de gas EASY-G 1310M Analizador de densidad real de alta precisión con cámara multimuestra Analizador de densidad realSend Email Detalles -
Analizador de superficie específica y porosimetría EASY-V
Los productos de la serie EASY-V adoptan el método de volumen estático para ensayos de superficies específicas y análisis de tamaño de poro. Se han suministrado a numerosas universidades e instituciones de investigación de todo el mundo y gozan de una excelente acogida entre los usuarios. La serie es totalmente automatizada y cuenta con una interfaz intuitiva y fácil de aprender. Esta tecnología ha obtenido diversas certificaciones internacionales y alcanza niveles de clase mundial. Su alta relación calidad-precio garantiza la inversión de los usuarios, y su configuración flexible satisface diversas necesidades.
Analizador de superficie específica y porosimetría EASY-V Analizador de superficie específica Medición de la distribución del tamaño de los porosSend Email Detalles -
Analizador de porosimetría y superficies específicas de la serie Climber
Los analizadores de superficie específica y tamaño de poro de la serie Climber están diseñados para realizar pruebas rápidas, precisas y estables, y admiten el análisis simultáneo de hasta 6 muestras. Sus principales características incluyen: Prueba del área superficial específica y la distribución del tamaño de poro de sólidos, lodos y polvos. Análisis de superficie específica a partir de 0,0005 m²/g. Análisis de tamaño de poro que varía de 0,35 a 500 nm (análisis preciso de 2 a 500 nm; análisis de rutina de 0,35 a 2 nm). Finalización de una prueba BET de cinco puntos en 20 minutos.
Analizador de porosimetría y superficies específicas de la serie Climber Analizador de control independiente de doble módulo Equipo de análisis de materiales de bateríasSend Email Detalles -
Espectrómetro EPR de alta frecuencia de banda W W900
El W900 opera a 94 GHz para una resolución espectral y orientacional superior en sistemas desordenados. Incorpora un puente de microondas de banda W (93,5-94,5 GHz, 30 mW CW/pulso de 2 W), un imán superconductor de 6 polos con bobinas de escaneo de ±1000 Gauss y un resonador de alto Q (valor Q ≥4000, 93,7-94,4 GHz). En combinación con el software EPR ProCT para experimentos automatizados de CW/pulsados (DEER/EDNMR/ENDOR), permite un análisis cuántico preciso de materiales y radicales.
Espectrómetro EPR de alta frecuencia de banda W W900 Imán superconductor EPR Espectrómetro EPR de banda W W900Send Email Detalles -
Espectrómetros y resonadores de la serie EPR
La serie EPR combina espectrómetros de onda continua (CW) de banda X (EPR300) y pulsada (EPR100) con resonadores avanzados (PW-4201-DR, High-Q, modo dual). El EPR100 ofrece 200 mW de potencia de onda continua/pulsada, 500 W de SSPA y una resolución temporal de 4 ns; el EPR300 ofrece una relación señal-ruido (SNR) de 10 000:1 y extensión de banda Q. Los resonadores cuentan con 400 MHz de ancho de banda (FWHM) (PW-4201-DR), un factor Q ≥18 000 (High-Q) y frecuencias de modo dual. Ideal para ciencia de materiales, química e investigación cuántica, con flujos de trabajo automatizados y detección multinúcleo.
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Espectrómetro de RMN de estado líquido inteligente CAN400
El CAN400 cuenta con un imán superconductor de 9,39 Tesla y 400 MHz con un diámetro interior de 54 mm para una homogeneidad ultraalta. Su consola distribuida admite de 2 a 8 canales de RF, una resolución de tiempo de 4 ns y gestión de energía controlada por software. Equipado con un cambiador automático de muestras de 72 ranuras, una pantalla táctil inteligente y una sonda multinúcleo, permite un análisis rápido y automatizado. Ideal para los sectores químico, energético y farmacéutico, ofrece experimentos in situ, acceso remoto y aplicaciones versátiles, desde la investigación de baterías hasta el cribado de fármacos.
Espectrómetro de RMN de estado líquido inteligente CAN400 imán superconductor de 400 MHz RMN de consola distribuidaSend Email Detalles -
Microscopio electrónico de barrido de emisión de campo Schottky de ultraalta resolución serie SEM-X
La serie SEM-X ofrece una resolución excepcional (0,6 nm a 15 kV, 1,2 nm a 1 kV) con imágenes de bajo voltaje, lo que minimiza el daño a las muestras. Integra óptica electrónica de "supertúnel", lentes compuestas electrostáticas-electromagnéticas y tecnología de desaceleración de doble haz para un rendimiento sin aberraciones. Sus características incluyen modo de bajo vacío (10-180 Pa), bloqueo de carga compatible con 8 pulgadas y sistemas multidetector (UD-SE/BSE, LD, LVD) para un análisis versátil. Ideal para semiconductores, ciencia de los materiales y ciencias de la vida, ofrece automatización y capacidad de expansión para aplicaciones de búsqueda.
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Microscopio electrónico de barrido de emisión de campo con haz de iones enfocado DB550 Ga+
El DB550 integra una columna de haz de iones enfocado (FIB) de Ga+ con un microscopio electrónico de emisión de campo (MEB) con óptica electrónica "Super Túnel" (lente libre de magnetismo y baja aberración), resolución iónica de 3 nm a 30 kV y resolución MEB de 0,9 nm a 15 kV. Incluye un nanomanipulador (precisión ≤10 nm), un sistema de inyección de gas (GIS único, control de temperatura de ±0,1 °C) y un dispositivo de carga compatible de 8 pulgadas. Ideal para nanofabricación, análisis de fallos de semiconductores y caracterización de materiales con flujos de trabajo automatizados y detectores ampliables (EDS/EBSD/STEM).
Microscopio electrónico de barrido de emisión de campo con haz de iones enfocado DB550 Ga+ Estación de trabajo FIB-SEM integrada Óptica electrónica de supertúnelSend Email Detalles -
Microscopio electrónico de transmisión por emisión de campo
El TEM de emisión de campo TH120 de 120 kV integra un cañón de emisión Schottky, conmutación automática de haz paralelo/convergente y una lente objetivo simétrica. Incorpora una cámara CMOS de alta resolución, platina de 4 ejes y software integrado. Los espacios de trabajo divididos reducen las interferencias; los flujos de trabajo automatizados aumentan la eficiencia; el diseño, listo para actualizaciones, se adapta a diversas necesidades de I+D.
Microscopio electrónico de transmisión por emisión de campo Microscopio de transmisión por emisión de campo de 120 kV TH120 Solución avanzada de imágenes de laboratorioSend Email Detalles -
Microscopio electrónico de barrido de alta velocidad HEM6000
Controlador de escaneo de alta velocidad Tiempo de permanencia: 10 ns/píxel; Velocidad máxima de adquisición: 2×100 M píxeles/s Sistema de filtrado de electrones Las señales SE/BSE se pueden cambiar libremente y la relación de mezcla de señales es ajustable. Sistema de deflexión electrostático de alta velocidad Permite realizar un modo de campo amplio de alta resolución. Con un tamaño de píxel de 4 nm, el campo de visión máximo alcanza los 32 μm × 32 μm. Tecnología de desaceleración de etapa de muestra Reduce la tensión de aterrizaje de los electrones incidentes y mejora simultáneamente la eficiencia de recolección de los electrones reciclados. Lente objetivo compuesta electromagnética de inmersión El campo magnético de la lente del objetivo sumerge la muestra, logrando una baja aberración y una alta resolución.
Microscopio electrónico de barrido de alta velocidad HEM6000 SEM industrial para inspección de semiconductores SEM de alta resolución y bajo voltajeSend Email Detalles
