C-SAM/SAT (Microscopio acústico de barrido)
C-SAM/SAT ofrece imágenes ultrasónicas no destructivas con un ancho de banda de 5–500 MHz, una velocidad de escaneo de 1200 mm/s y operación multimodo (manual/semiautomático/automático). SAM Auto Line permite la detección automatizada de defectos (huecos, delaminación) para IGBT/MEMS, con circulación de palés, software de revisión automática y manipulación robótica, lo que garantiza un control de calidad preciso y eficiente para semiconductores y dispositivos médicos.
Detalles del producto
ElC-SAM/SAT (Microscopio acústico de barrido)Desarrollado por SBT, revoluciona el control de calidad no destructivo para materiales opacos en semiconductores, dispositivos médicos y fabricación avanzada. Con el lema "Haciendo visible la calidad", utiliza ultrasonidos de alta frecuencia para visualizar defectos internos como huecos, burbujas, inclusiones y delaminación.
Especificaciones técnicas:
Dimensiones físicas:Tamaño de la unidad 1100 mm × 1020 mm × 1550 mm; tamaño del fregadero 645 mm × 750 mm × 155 mm.
Rendimiento del escaneo:Rango efectivo 400 mm × 320 mm × 120 mm; velocidad máxima 1200 mm/s; resolución recomendada 1–4000 μm.
Tecnología básicaAncho de banda de emisión/recepción de 5 a 500 MHz, muestreo DAQ de 1 GHz/s y sistema integrado de agua y aguas residuales para un funcionamiento estable.
Flexibilidad:Admite modos de carga manual, semiautomático y automático (en línea).
Variaciones del modelo:
Línea SAM:Modelo estándar para necesidades de inspección versátiles.
Línea de automóviles SAMVersión automatizada avanzada con cuerpo gris claro con detalles azules, paneles frontales transparentes y brazos robóticos internos para la manipulación de palés. Su flujo de trabajo incluyeCarga → Escaneo (sistema ultrasónico US600) → Descarga → Circulación de palets, lo que permite un funcionamiento continuo.
AplicacionesAmpliamente utilizado para módulos IGBT/MOSFET, disipadores térmicos, chips, compactos de diamante policristalino, cerámicas y MEMS. La línea SAM Auto destaca en la inspección de IGBT, la verificación de enlaces y el análisis de MEMS, con...paquete de software de revisión automática de defectosque evalúa módulos completos, reduciendo el error humano.
VentajasCombina alta resolución (detección de defectos submicrónicos) con escaneo rápido, garantizando el cumplimiento de los estrictos estándares de la industria. Su diseño modular se adapta a diversas líneas de producción, mientras que la línea automatizada SAM Auto Line aumenta el rendimiento en un 30 % en comparación con los sistemas manuales.
Palabras clave SEO
Microscopio acústico de barrido, C-SAM/SAT, SAM Auto Line, inspección automatizada, ensayos no destructivos, inspección por ultrasonidos, detección de defectos, inspección de IGBT, inspección de MEMS, verificación de adherencias, escaneo ultrasónico, circulación de palés, control de calidad de semiconductores, control de calidad de dispositivos médicos, detección de huecos, análisis de delaminación
