Sistema de análisis de elementos láser CIS-LIBS
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Sistema de análisis de elementos láser CIS-LIBS

El sistema CIS-LIBS revoluciona el análisis de elementos con un solo clic, ofreciendo resultados en 3 segundos sin preprocesamiento. Gracias a la espectroscopia de ruptura inducida por láser (LIBS), detecta elementos de Cu/Al/Fe en partículas, no requiere tratamiento de vacío/conductividad y reemplaza los flujos de trabajo multidispositivo con una sola unidad compacta. Ideal para la industria automotriz, de semiconductores y de fabricación de precisión.

Sistema de análisis de elementos láser CIS-LIBS

CIS-LIBS Laser Element Analysis System

ElSistema de análisis de elementos láser CIS-LIBSEs una solución de vanguardia para la detección rápida y no destructiva de la composición de partículas, diseñada para reemplazar los complejos flujos de trabajo tradicionales. Al integrar la tecnología LIBS avanzada con la automatización inteligente, permite a los usuarios identificar la composición elemental (p. ej., Cu, Al, Fe) de partículas en tan solo 3 segundos, directamente en el aire, sin preprocesamiento.

Componentes principales y tecnología

El sistema combina hardware de alta precisión para un análisis perfecto:

  • Láser UV de nanosegundos: Presenta un ancho de pulso estrecho, alta potencia de pico y larga vida útil, lo que permite una ablación precisa de las superficies de las partículas con un daño mínimo. En combinación con unObjetivo láser UV(NA alta, alta transmitancia, tamaño de punto pequeño), asegura una entrega de energía enfocada.


  • Espectrómetro:Diseño multicanal con amplia cobertura de longitud de onda, alta resolución y sensibilidad, capturando luz ionizada de partículas ablacionadas.


  • Cámara de alta velocidadEquipado con un sensor de 2,3 MP (resolución de 1920 × 1080), una velocidad de cuadro de 480 fps y un amplio campo de visión, ayuda a localizar regiones de interés (ROI) para su análisis.


  • Escenario motorizado:La plataforma de gran recorrido (alta resolución, velocidad) admite el escaneo de piezas grandes, con control de software + joystick para un posicionamiento preciso.


  • Trayectoria óptica de la Olympus BX53M:Garantiza una alta calidad óptica con imágenes metalográficas de campo brillante, compatible con COMSOL Multiphysics y software CAD para integración de datos.


  • One-Click Rapid Particle Composition Detection via LIBS Technology

Principio de funcionamiento: Análisis con un solo clic basado en el aire

El sistema simplifica la detección de elementos en cinco pasos automatizados (como se muestra en la Figura 1):

  1. Ablación láser UV:Un láser UV de nanosegundos enfocado bombardea la superficie de la partícula, ionizando los elementos superficiales.


  2. Emisión de plasma:Los elementos ionizados se recombinan y emiten espectros de luz característicos.


  3. Captura del espectrómetro:El espectrómetro recoge y divide la luz en bandas de longitud de onda para identificar firmas elementales.


  4. Coincidencia de bases de datos:Una base de datos interna combina automáticamente los espectros con los elementos (por ejemplo, Cu, Al, Fe) y cuantifica las concentraciones.


  5. Generación de informes:Se genera un informe de material de partículas completo, que detalla la composición y distribución elemental.


  6. LIBS element analysis system

Ventajas sobre el análisis de elementos tradicional

En comparación con los flujos de trabajo convencionales (Figura 2), CIS-LIBS elimina los puntos críticos:

  • Sin preprocesamientoAnaliza partículas directamente en el aire, sin necesidad de corte, pulido, cámaras de vacío ni tratamientos de conductividad. Se aceptan objetivos de cualquier tamaño y forma.


  • Eficiencia de un solo dispositivo:Reemplaza configuraciones de múltiples equipos (microscopios + preprocesadores + analizadores) con una unidad compacta, reduciendo costos y espacio.


  • Resultados rápidos:Permite discriminación de elementos en 3 segundos mediante una operación con un solo clic, reduciendo el tiempo de análisis de horas a segundos.


  • Requisito de baja cualificaciónLos operadores con capacitación básica pueden realizar análisis; no se necesitan conocimientos especializados, a diferencia de los dispositivos tradicionales de alta complejidad.


Especificaciones técnicas

  • Principio de detecciónEspectroscopia de ruptura inducida por láser (LIBS)


  • LáserLáser UV de nanosegundos (ancho de pulso estrecho, alta potencia de pico)


  • Espectrómetro: Multicanal, amplio rango de longitud de onda, alta relación señal-ruido (SNR)


  • Cámara:2,3 MP (1920 × 1080), 480 fps, sensor RGB


  • Escenario: Motorizado (control por software + joystick), amplio rango de recorrido, alta resolución


  • Software: Informes automáticos, integración de datos Q-DTS, cumplimiento de las normas ISO/VDA


  • Ambiente: Temperatura de funcionamiento 0–45 °C, humedad 0–85 % (sin condensación)


  • Físico:~50 kg, dimensiones compactas, garantía de 12 meses


Aplicaciones

Ideal para industrias que requieren control de contaminación por partículas: automotriz (sistemas de frenos/combustible), semiconductores (defectos de obleas), fabricación de precisión (piezas aditivas) y aeroespacial (componentes hidráulicos).

El sistema CIS-LIBS redefine el análisis de elementos con velocidad, simplicidad y precisión, convirtiéndolo en la solución ideal para el control de calidad moderno.

CIS-LIBS Laser Element Analysis System

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