Sistema de análisis de limpieza inteligente CIS30-S
El sistema CIS30-S revoluciona el análisis de limpieza con un solo clic, ofreciendo un 50 % más de velocidad de análisis mediante la identificación de partículas metálicas y no metálicas con un solo escaneo. Incorpora tecnología de iluminación digital patentada, reconocimiento automático de aumento y cumple con las normas ISO16232/VDA19. Ofrece ajuste automático de umbrales, generación de informes personalizable y resultados de medición trazables con materiales de referencia certificados. Ideal para el control de calidad de la industria automotriz, de semiconductores y de fabricación de precisión, ya que proporciona un análisis completo del tamaño de partícula, su distribución y topografía 3D con precisión de laboratorio.
Tecnología de análisis inteligente
El Sistema Inteligente de Análisis de Limpieza CIS30-S representa un avance en la tecnología automatizada, integrando imágenes ópticas avanzadas, algoritmos inteligentes y gestión automatizada del flujo de trabajo. Este sistema elimina las complejidades del análisis microscópico tradicional gracias a su innovador funcionamiento con un solo clic, lo que permite un análisis de limpieza de nivel profesional al alcance de operadores de todos los niveles.
La inteligencia central proviene de varias tecnologías innovadoras.sistema de iluminación digital patentado(Patente n.°: ZL 201721784091.X) permite la identificación simultánea de partículas metálicas y no metálicas en un solo escaneo, lo que reduce drásticamente el tiempo de análisis en un 50 % en comparación con los métodos convencionales. El sistema...reconocimiento de aumento inteligenteCalibra automáticamente las escalas de medición al cambiar los objetivos, lo que garantiza una precisión constante en diferentes niveles de aumento. Esto se complementa conajuste del umbralque sigue las especificaciones VDA19, eliminando el error humano en la detección y clasificación de partículas.
Capacidades avanzadas de imágenes
El CIS30-S se basa en un sofisticado sistema óptico diseñado específicamente para el análisis de limpieza. El sistema incorpora una óptica de corrección al infinito de grado científico con un zoom de 12,5:1, capaz de detectar partículas de hasta 15 μm, de acuerdo con las normas ISO16232-7 y VDA19.1. El sistema de imágenes utiliza una cámara industrial de alta resolución (sensor Sony IMX265, resolución de 2064×1544) con tecnología de obturador global para capturar imágenes nítidas y sin distorsiones a 53 fotogramas por segundo.
La tecnología de iluminación del sistema establece estándares en el análisis de partículas.sistema de iluminación digital inteligenteProporciona modos de iluminación estándar y polarizada, lo que permite una clara diferenciación entre partículas metálicas y no metálicas según sus propiedades reflectantes. Las partículas metálicas parecen reflectantes bajo iluminación estándar, pero se oscurecen bajo luz polarizada, mientras que las partículas no metálicas mantienen una apariencia uniforme en ambas condiciones de iluminación. Este análisis de modo dual garantiza una clasificación precisa del material sin necesidad de múltiples escaneos.
Funciones de flujo de trabajo automatizado
El CIS30-S transforma procedimientos de análisis complejos en un proceso optimizado y automatizado.modo inteligente de un clicIntegra todos los pasos del análisis, desde el escaneo y la detección de partículas hasta la clasificación y la generación de informes, en una sola operación. Esto incluye el enfoque automático, el movimiento de la platina, la captura de imágenes y el análisis de datos, lo que reduce significativamente la necesidad de capacitación del operador y ofrece resultados consistentes para múltiples usuarios.
Los algoritmos de software avanzados potencian las capacidades analíticas del sistema. El software incluyereconocimiento automático de partículasque distingue entre partículas metálicas, contaminantes no metálicos y fibras según criterios predefinidos (p. ej., longitud ≥100 μm, relación de aspecto >10 para la identificación de fibras). El sistema admite múltiples algoritmos de dimensionamiento de partículas y permite a los usuarios definir estándares de análisis personalizados más allá de los protocolos integrados ISO16232 y VDA19.Arquitectura de puentesGestiona todos los datos del proyecto, lo que permite una fácil revisión, edición y reanálisis con diferentes parámetros.
Precisión de la medición y trazabilidad
La precisión se garantiza mediante múltiples mecanismos de validación. El sistema incluyemateriales de referencia certificadosCon certificados de terceros, trazables a estándares nacionales e internacionales. Estos estándares de referencia contienen partículas de entre 50 y 1000 μm, distribuidas en un área de 47 mm, lo que permite la verificación periódica del rendimiento del instrumento y la consistencia de las mediciones. El sistema de calibración automatizado mantiene la integridad de las mediciones a lo largo del tiempo, con herramientas integradas para la verificación de la escala y la corrección de fondo.
El sistemaCapacidades de análisis 3DProporcionan información topográfica completa, más allá del conteo básico de partículas. Esto incluye medición de altura, cálculo de volumen y análisis de área superficial, especialmente valiosos para comprender el comportamiento de las partículas en aplicaciones prácticas. La amplia platina de escaneo (rango de recorrido de 125 × 75 mm) permite análisis de filtro completo con una resolución de 0,1 μm, mientras que el revólver eléctrico garantiza un posicionamiento preciso para el análisis multiubicación.
Informes y gestión de datos personalizables
Los informes flexibles satisfacen diversas necesidades organizacionales. El sistema genera informes de análisis completos que incluyen la distribución del tamaño de partículas, la clasificación de materiales y las fuentes de contaminación. Los informes se pueden personalizar para adaptarse a las plantillas específicas del cliente y exportar en múltiples formatos (PDF, Excel).Plataforma de interconexión de datos Q-DTSPermite una integración perfecta con los sistemas de ejecución de fabricación (MES), lo que respalda el monitoreo de calidad en tiempo real y el análisis de tendencias.
Las funciones de gestión de proyectos permiten gestionar los datos de forma organizada. El sistema archiva proyectos de análisis completos, incluyendo imágenes originales, datos de medición y parámetros de análisis. La función de búsqueda avanzada permite una rápida recuperación por nombre de proyecto, fecha o criterios específicos. Las funciones de seguridad garantizan la integridad de los resultados, con registros de auditoría que rastrean todos los pasos del análisis y los cambios en los parámetros.
Aplicaciones y cumplimiento de la industria
El CIS30-S es compatible con diversas industrias con requisitos de cumplimiento específicos. En la fabricación de automóviles, garantiza la limpieza de los componentes según las normas VDA19. Las aplicaciones de semiconductores se benefician de su precisión en la detección de contaminantes a escala micrométrica. El sistema también es compatible con las industrias aeroespacial, de dispositivos médicos y de ingeniería de precisión, donde el control de la contaminación por partículas es fundamental.
El mantenimiento y la calibración regulares garantizan una fiabilidad a largo plazo. El diseño modular del sistema facilita la sustitución y actualización de componentes, mientras que la plataforma mecánica estable y la óptica con compensación de temperatura mantienen la precisión en condiciones ambientales variables. Los completos recursos de formación y soporte ayudan a los usuarios a maximizar el uso del sistema y a cumplir con las normas de acreditación.
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