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Sistema de medición topográfica 3D serie MTS
La serie MTS ofrece medición de superficies 3D rápida y precisa mediante tecnología confocal espectral, con una resolución de 20 nm en el eje Z. Cuenta con una plataforma automatizada de 4 ejes, una frecuencia de muestreo de 6000 Hz y un software inteligente con integración Q-DTS/IA. Compatible con múltiples materiales, incluyendo superficies transparentes, reflectantes y rugosas. Ideal para las industrias de semiconductores, automoción y electrónica, para la detección de protuberancias, la medición de ranuras y el análisis de superficies con una precisión y eficiencia excepcionales.
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Sistema de medición de topografía 3D confocal espectral serie MTS
La serie MTS utiliza tecnología confocal espectral avanzada para la medición de superficies 3D sin contacto, logrando una resolución excepcional en el eje Z de hasta 20 nm. Cuenta con plataformas de motor lineal con precisión de 0,1 μm, funciones de escaneo automatizado y compatibilidad con múltiples materiales. Compatible con diversas aplicaciones, como la inspección de golpes de semiconductores, la medición de ranuras y el análisis de marcas láser. Integrada con software propietario y algoritmos de IA para un procesamiento de datos eficiente y generación de informes en tiempo real. Ideal para el control de calidad de la fabricación de precisión en las industrias de electrónica, automoción y semiconductores.
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